日本電子は9日、東北大学多元物質科学研究所(多元CAF)など4社の産学連携共同研究で、電子顕微鏡用の同社製軟X線発光分光器(SXES)を改良、鉄鋼や半導体の材料中に添加されたホウ素分布の検出能力(分析強度)を3倍以上向上させたと発表した。より微量のホウ素の検出・可視化を実現し、鉄鋼の軽量・高強度化や半導体デバイスの高効率化につながるという。 (C)時事通信社